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TH510系列
TH511 半導體C-V特性分析(xi)儀(yi)

 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件

 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式

 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示

 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)

 CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描

 電容快速充電技術,實現快速測試

 接觸檢查Cont

 通斷測試OP_SH

 自動延時設置

 柵極電壓VGS:0 - ±40V

 漏極電壓VDS:0 - ±200V

 10檔分選


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TH512 半(ban)導體C-V特性分析儀

 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件

 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式

 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示

 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)

 CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描

 電容快速充電技術,實現快速測試

 接觸檢查Cont

 通斷測試OP_SH

 自動延時設置

 柵極電壓VGS:0 - ±40V

 漏極電壓VDS:0 - ±1500V

 10檔分選


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TH513 半導體C-V特性(xing)分(fen)析(xi)儀

 一體化設計:LCR+VGS低壓源+VDS高壓源+通道切換+上位機軟件

 單管器件(點測)、模組器件(列表掃描)、曲線掃描(選件)三種測試方式

 四寄生參數(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一鍵測量及顯示

 標配2通道,可擴展至6通道,可測單管、多芯或模組器件(TH513僅1通道)

 CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描

 電容快速充電技術,實現快速測試

 接觸檢查Cont

 通斷測試OP_SH

 自動延時設置

 柵極電壓VGS:0 - ±40V

 漏極電壓VDS:0 - ±3000V

 10檔分選


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