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■ 可擴充硬件架構，根據需求搭配單機

■ 八通道同時或四通道分組測試，通道數可擴充

■ 測試項目靈活編輯調取，定制化測試方案

■ 多層次權限管理和完善的信息管理功能

■ 各通道支持獨立條形碼或二維碼讀取功能 

■ 線上儀控功能

■ 測試程序管理和編輯功能 

■ 統計報表輸出和編輯功能 

■ 提供系統日志，方便故障定位和操作人員相關信息查詢。 

■ 可外接配套工裝治具實現離線或自動化產線測試

■ 系統預留IO接口，無需額外硬件便可與自動化產線對接  

■ 圖形化界面（Windows 2000/XP/7/10以上的作業環境）

■ 系統支持多種通訊接口（GPIB、USB、RS-232、LAN等）

光耦(ou)光電特性解決方案

輸(shu)入特(te)性

輸出特性

傳輸特(te)性

測量參數：Ciss、Coss、Crss、Rg（MOSFET）

           Cies、Coes、Cres、Rg（IGBT）

通道數：2-6

V_GS范圍：0-±40V

V_DS范圍：0 - ±200V/±1500V/±3000V

測試頻率：1kHz-2MHz

fA級-A級

一體化(hua)測(ce)試系(xi)統(tong)

單通道

多通(tong)道

掃描測(ce)試

并行測試(shi)

電解電容、鉭電容、陶瓷電容漏電流

并行測(ce)試

訂制通道

高精(jing)度(du)

高速度

一(yi)體化